日期:2014-06-13瀏覽:2316次
根據《納米快報》(Nano Letters),《納米技術》(Nanotechnology),《IEEE 納米技術匯刊》(IEEE Transactions on Nanotechnology),《先進材料》(Advanced Materials),《自然》(Nature),《應用物理快報》(Applied Physics Letters)相關文獻資料,以及納米工程功能材料研究中心(FENA),西部納米電子研究所 (WIN),加州納米系統研究院的研究成果案例,上海堅融JETYOO聯合美國吉時利KEITHLEY,開發了脈沖特性分析降低納米線、納米管、納米材料和納米電子的焦耳熱效應的具體測量應用。
可以使您的產品:
脈沖測試zui小化焦耳熱效應;
符合IEEE P1650-2005 標準:“測量碳納米管電氣特性的 IEEE 標準測試方法”。
高速和簡潔的測試方案能讓生物學家、化學家、物理學家或其他研究人員簡便地進行復雜測量。
使用到的儀器設備有:
4200-SCS半導體特性分析系統
數字源表
2420 型 3A 源表
2430 型脈沖源表
2601 型高吞吐量源表
2636 型雙通道低電流和脈沖輸出源表
6430亞fA程控源表
電流源/納伏表
6220直流電流源
6221交流和直流電流源
2182A納伏表
靜電計/皮安表
6514靜電計
6517A靜電計/高阻表
6485皮安表
6487皮安表/電壓源
脈沖發生器
3401單通道脈沖/碼型發生器
3402雙通道脈沖/碼型發生器